HT-2000B顆粒和粉末特性分析儀性能

更新時(shí)間：2014-07-29

點(diǎn)擊次數(shù)：1482

HT-2000B顆粒和粉末特性分析儀性能

顆粒和粉末特性分析儀通過自動(dòng)化控制技術(shù)，減少人因素對(duì)測(cè)試過程之接觸帶來操作和計(jì)算誤差，各試驗(yàn)項(xiàng)目之測(cè)試通過光、電、測(cè)控電子來實(shí)現(xiàn)；測(cè)試數(shù)據(jù)打印功能；儀器密碼管理、觸摸屏顯示；為粉末粉體顆粒表征研究提供可靠和數(shù)據(jù).HT-2000B顆粒和粉末特性分析儀主要為粉末和顆粒物理特性綜合分析提供一個(gè)測(cè)試平臺(tái)和解決方案.粉體物理特性有：粒度分布、表面積、松密度、孔隙率、真密度、粒附性、表面能、表面電荷、孔徑分布、濕含量、抗張強(qiáng)度、剪切強(qiáng)度等，本儀器主要通過對(duì)粉末和顆粒振實(shí)密度、松裝密度、堆積密度、安息角（休止角）、抹刀角、崩潰角、差角、剪切性、分散度、凝集度、流動(dòng)性和流動(dòng)時(shí)間等項(xiàng)目測(cè)量,綜合反映粉體流動(dòng)性和表征特性狀況。

華泰儀器還生產(chǎn)更多直流低電阻測(cè)試儀及電阻率測(cè)試儀

粉末電阻率測(cè)試儀；體積電阻率測(cè)試儀；表面電阻率測(cè)試儀；半導(dǎo)體電阻率測(cè)試儀

相關(guān)產(chǎn)品：HT-310炭素電阻率測(cè)試儀；HT-303表面電率阻率/體積電阻率測(cè)試儀； HT-304絕緣材料表面/體積電阻率測(cè)試儀；HT-302電纜半導(dǎo)電屏蔽層電阻率測(cè)試儀； HT-300經(jīng)濟(jì)型粉末電阻率測(cè)試儀； HT-300A 材料電阻率測(cè)試儀； HT-300B電線電纜電阻率測(cè)試儀；